Tiếng ồn của pin được giải mã để tiết lộ các vết nứt, khí gas và manh mối an toàn

Các nhà nghiên cứu tại MIT đã phát triển một phương pháp mới để giải mã các tín hiệu âm thanh yếu phát ra từ pin lithium-ion trong quá trình sạc và xả, liên kết các mẫu âm thanh cụ thể với các quá trình suy thoái bên trong như sinh khí và nứt vỡ vật liệu điện cực. Bằng cách kết hợp thử nghiệm điện hóa với ghi âm âm thanh nhạy bén trong điều kiện thực tế, nhóm nghiên cứu đã có thể giám sát sức khỏe pin một cách không xâm lấn, nhận diện các đặc trưng âm thanh riêng biệt ngay cả trong dữ liệu có nhiều tạp âm. Phương pháp này được xác thực qua kính hiển vi điện tử, khẳng định mối tương quan giữa âm thanh và tổn thương bên trong pin. Khác với các phương pháp trước đây dựa trên ngưỡng âm thanh đơn giản, các nhà nghiên cứu MIT đã sử dụng biến đổi wavelet tiên tiến để tách các tín hiệu có ý nghĩa khỏi tiếng ồn nền, tương tự như kỹ thuật được dùng trong giám sát sức khỏe kết cấu cầu đường. Việc giám sát âm thanh này cung cấp một công cụ chẩn đoán bổ sung ngoài các phép đo điện áp và dòng điện truyền thống, mang lại những hiểu biết về tuổi thọ pin và các rủi ro an toàn, bao gồm cảnh báo sớm về hiện tượng tăng nhiệt mất kiểm soát. Công nghệ này có ứng dụng ngay lập tức trong nghiên cứu vật liệu, kiểm soát chất lượng sản xuất và giám sát xe điện, với các hợp tác đang diễn ra như với Tata Motors để triển khai các hệ thống chẩn đoán thực tế. Nghiên cứu này...